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三箱式冷熱沖擊試驗箱優(yōu)質(zhì)廠家怎么選？這些關鍵點要牢記
2025-12-15 2025-02-27 2024-07-24 2025-01-02 2025-10-13 半導體冷熱沖擊試驗箱能夠快速且準確地在高溫和低溫環(huán)境之間進行切換
2026-01-21 守護芯片品質(zhì)的溫度衛(wèi)士：半導體冷熱沖擊試驗箱
2025-10-22 冷熱沖擊試驗箱能夠在短時間內(nèi)實現(xiàn)溫度的快速變化
2025-06-18 2025-05-23 2024-11-01 產(chǎn)品中心/ products
高低溫冷熱沖擊試驗箱生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品型號：TS-49廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-10-11訪 問 量：451
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| 品牌 | 艾思荔 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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高低溫冷熱沖擊試驗箱生產(chǎn)廠家制冷壓縮機啟?？刂茰囟龋囟炔▌哟?、嚴重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術）制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制（導致制冷量與加熱相抵消實現(xiàn)溫度動態(tài)平衡，浪費了大量的電能）新型PWM冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過ASLI技術控制調(diào)節(jié)制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現(xiàn)降低40%的能耗。
高低溫冷熱沖擊試驗箱生產(chǎn)廠家規(guī)格/SPEC/要可按客戶要求訂制
型 號 | TS-42（A～C） | TS-80（A～C） | TS-150（A～C） | TS-252（A～C） | TS-450（A～C） |
內(nèi)部尺寸W×H×D(cm) | 40×35×30 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×75×75 |
外部尺寸W×H×D(cm) | 140×180×145 | 148×190×155 | 160×200×175 | 175×210×187 | 190×220×200 |
溫度范圍（測試區(qū)） | (150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃)；(高溫區(qū)：+60℃～+150℃；低溫區(qū)-10℃～-65℃) | ||||
升溫時間(蓄熱區(qū)) | RT～200℃約需35min | ||||
降溫時間(蓄冷區(qū)) | RT～-70℃約需85min | ||||
溫度回復時間／轉(zhuǎn)換時間 | ≤5min內(nèi) / ≤l0秒內(nèi) | ||||
溫度控制精度／分布精度 | ±0.5℃／±2.0℃ | ||||
保溫材質(zhì) | 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 | ||||
系統(tǒng) | P．I．D + S．S．R + 微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng) | ||||
冷卻系統(tǒng) | 半密閉式雙段壓縮機(水冷式)／全密閉式雙段壓縮機(風冷式) | ||||
安全保護裝置 | 無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關，冷媒高壓保護開關、故障警告系統(tǒng)，電子警報器 | ||||
配 件 | 觀視窗(特殊選購型)、上下可調(diào)隔層兩片、通電測試孔、腳輪、水平支架 | ||||
電 源 | AC380V 50Hz／60Hz 3 ∮ | ||||
重量(大約 | 700Kg | 900Kg | l200Kg | 1400Kg | 1900Kg |
沖擊試驗箱特點:
采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡易.
設備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆之斷熱結(jié)構。
沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。
高溫沖擊或低溫沖擊時，*大時間可達9999分鐘，*大循環(huán)周期可達9999次。
系統(tǒng)可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風冷式或水冷式兩種。
可連接電腦，記錄儀僅為選購件。
彩色LCD液晶觸控式控制器的特點：
控制器的各項操作皆以人機觸控方式進行。
人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機械狀態(tài)。
提供及時線上說明，免除閱讀說明書的困擾。
超大溫度值顯示,提供*佳的顯示效果.
沖擊試驗箱滿足標準:
1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗A：低溫試驗方法；
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗B：高溫試驗方法；
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗Ca：恒定交變濕熱試驗方法。
4.GB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法
5.GB/T2423.3-2006（IEC68-2-3）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
6.GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da:交變濕熱試驗方法
7.GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法
8.GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
9.GJB150.9-1986《設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》
10.GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗：恒定濕熱試驗》
11.GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗：交變濕熱試驗》
12.GJB367.2-1987《通信設備通用技術條件環(huán)境試驗方法》濕熱試驗
13.GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
14.GB/T5170.5-96《濕度試驗設備》
15.GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術條件》
16.GB/T10586-2006《濕熱試驗箱技術條件》
17.GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術條件》
18.GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術條件》
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