溫變測(cè)試箱此設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測(cè)試區(qū)三部份，采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測(cè)試，待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。

采用原裝日制微電腦大型液晶LCD（320x240Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。
高程序記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存100組程序，大循環(huán)設(shè)定9999Cycles，每段時(shí)間大設(shè)定999Hrs59Mins。
具有RS-232C通信接口裝置，可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控／編輯／記錄及二組動(dòng)態(tài)接點(diǎn)（TimeSignalRelay），使用便捷。
執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2Zone或3Zone之功能。
具備全自動(dòng)，高精度系統(tǒng)回路，任一機(jī)件動(dòng)作，由P.L.C.鎖定處理。
機(jī)件固障時(shí)，配有自動(dòng)機(jī)回路及警示訊號(hào)。發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí)，具有緊急停機(jī)裝置。
溫變測(cè)試箱設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）
GB/T2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB150.9A-2009用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)